Low-e膜層四點(diǎn)電阻測試儀

Low-e膜層四點(diǎn)電阻測試儀

詳細信息

RC3175/RC2175


Low-e膜層四點(diǎn)電阻測試儀


RC2175

RC3175

單位

量程

0-1999

0-199.9

Ohms/square

讀數

1

0.1

精度

3%

0.9%


            國家玻璃質(zhì)量監督檢測中心
            地  址:河北省秦皇島市河北大街西段91號
            郵  編:066004
            電  話(huà):0335-5911598
            手  機:13633332990
            傳  真:0335-8051865
            E-mail:wanglixiang100@163.com
            網(wǎng)  址:http://2yi.com.cn
            聯(lián)系人:王立祥

設備開(kāi)發(fā)

技術(shù)支持:艾米科技